Revista ELECTRO
Vol. 46 – Año 2024
Artículo
TÍTULO
Sistema de Prueba de Circuitos Electrónicos en Tarjetas de Procesamiento de Señal
AUTORES
Villalobos-Corral, B.A.; Robledo-Vega, I.; Acosta-Cano de los Ríos, P.R.
RESUMEN
Las fallas en tablillas de circuitos impresos ( PCBs ) usadas para procesos de manufactura en la industria son las causas de múltiples pérdidas monetarias y tiempos muertos a nivel global. Existen generalmente 3 sistemas para análisis y solución de fallas en circuitos electrónicos. Estos son: Análisis de la f irma V-C, sistemas de aprendizaje de máquina (kernel, máquinas de vectores soporte y redes neuronales) y métodos termográficos. Algunas son más costosas y/o difíciles de implementar que otras. El laboratorio de calibración de medidores tipo turbinas de la planta DANIEL EMERSON exhibe una cantidad considerable de tiempo muerto debido a fallas en tablil las electrónicas. Para reducir el tiempo muerto y gastos de la empresa atribuidos a problemas en las tablillas electrónicas, se presenta el diseño de un sistem a de diagnóstico de fallas en PCBs tanto para componentes análogos como discretos.
Palabras Clave: fallas en circuitos electrónicos, sistemas de prueba, circuito s impreso s
ABSTRACT
Failures in printed circuits boards ( PCBs ) used in industry manufacturing processes cause many economical losses and dead times globally. Generally, there are 3 system types for failure analysis and solution in electronic circuits. These are: signature analysis, machine learning systems (kernel, vector support machines and neur al networks) and thermographic methods. Some of them are more expensive and/or hard to implement than others. The calibration laboratory for sensors of turbine type at DANIEL EMERSON show a considerable amount of dead time and costs due to failures in PCB s. In order to reduce dead time and costs because of failures in PCBs, a design of a PCB fault diagnosis system for analog and digital components is proposed.
Keywords: electronic circuits faults, proof systems, printed circuit boards
REFERENCIAS
[1] J. L. S. Garcí a, “Diagnósti co de Circuitos Integrados Analó gicos y de Comunicaciones ”, Ingeniería de sistemas, vol. 1, nº 1, p. 13, 2011.
[2] R. A. Pease, “Troubleshooting Analog Circuits ”, Wobum: National Semiconductor, 1991.
[3] M. Slamani y B. Kaminska, “Analog Circuit Fault Diagnosis ”, Quebec, Canada, March 1992.
[4] S. Sindia, V. Agrawal y V. Singh, “ Test and Diagnosis of Analog Circuits using moment generating functions ”, Asian Test Symposium, p. 6, 2011.
[5] A. S. Sara thi Vasan, B. Long y M. Pecht, “ Diagnostics and Prognostics Method for Analog Electronics Circuits ”, IEEE Transactions o n Industrial Electronics,, vol. 60 No. 11, p. 5, November 2013.
[6] A. Insafa, M. S alman Baiga, Z. A. Nayyara y M. A. Baigb, “Techniques to Identify and Test PCB Faults with Proposed Solution ”, Journal of Basic & Applied Sciences, vol. 10, pp. 532-536, 2014.
[7] M. B. Bassat, D. B. Arie, I. Beniamin y,. J. Cheifetz y M. Klinger, “Ai-Test a Real Life Expert System for Electronic” p. 9.
[8] ABI Electronics, Test & Measurement Systems, 1983. [En línea]. disponible: https://www.abielectronics.co.uk/. [Último acceso: 20 October 2020].
[9] B. Martí n del Brío y C. Serrano Cinca, “Fundamentos de las redes neuronales ”, p. 23, ene-jun 1995.
[10] L. W right, V. Kirkland y R. Glenn, “Using Neural Networks to Solve Testing Problems ”, IEEE AES Systems Magazine, p. 5, 1997.
[11] B. Yang, “Thermography techniques for integrated circuits and semiconductor devices ”, Sensor Review, p. 18, 2007.
[12] N. Dave, V. Tam bade, B. Pandhare y S. Saurav, “PCB Defect Detection Using Image Processing And Embedded System ”, International Research Journal of Engineering and Technology (IRJET), vol. 03, nº 05, p. 5, 2016.
CITAR COMO:
Villalobos-Corral, B.A.; Robledo-Vega, I.; Acosta-Cano de los Ríos, P.R., "Sistema de Prueba de Circuitos Electrónicos en Tarjetas de Procesamiento de Señal", Revista ELECTRO, Vol. 46, 2024, pp. 219-226.
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